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深圳市禾苗分析儀器有限公司

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產品大全

PCB鍍層測厚儀/金屬鍍層測厚儀

產品分類:
大型儀器/能譜儀

產品介紹

探測器 ● 類型:X123探測器(原裝進口高性能電致冷半導體探測器) ● Be窗厚度:1mil ● 晶體面積:25mm2 ● 最佳分辨率:145eV ● 信號處理系統:DP5 X射線管 ● 電壓:0-50v ● 最大電流;2mA ● 最大功率:50W ● 靶材:Mo ● Be窗厚度:0.2mm ● 使用壽命:大于2w小時 高壓電源 ● 輸出電壓:0-50Kv ● 燈絲電流0-2mA ● 最大功率:50w ● 紋波系數:0.1%(p-p值) ● 8小時穩定性:0.05% 攝像頭 ● 焦距:微焦距 ● 驅動:免驅動 ● 像素:500萬像素 準直器、濾光片 ● 系統:快拆卸準直器、濾光片系統 ● 材質:多種材質準直器 ● 光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選 ● 組合:多種濾光片(軟件自動切換)、準直器組合 十字激光頭 ● 光斑形狀:十字線 ● 輸出波長:紅光650nm ● 光學透鏡:玻璃透鏡 ● 尺寸:Φ10×30mm ● 發散角度:0.1-2mrad ● 工作電壓:DC 5V ● 輸出功率:<5mW ● 工作溫度:-10~50℃ ● 儲存溫度:-40~85℃ 其它配件 ● 開關電源:進口高性能開關電源 ● 散熱風扇:進口低噪聲、大風量風扇 輻射保護 ● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線 ● 輻射標志警示 ●儀器經權威第三方檢測,X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》 硬件技術 ● X射線下照式,激光對焦可調樣品倉,對于大件樣品、異形不平整樣品,無需拆分打磨,可直接測試 ● 模塊化準直器,根據分析元素,配備不同材質準直器,從而降低準直器對分析元素的影響,提高元素分辨率 ● 最小光斑0.2mm,可針對各種樣品中的小測試點精確定位,避免材質干擾,測量結果更準確 ● 空氣動力學設計,加速光管冷卻,有效降低儀器內部溫度;靜音設計 ●電路系統符合EMC、FCC測試標準 軟件技術(HeLeeX ED Workstation V3.0) ● 分析元素:Na~U之間元素 ● 分析時間:90秒 ● 界面簡潔,模塊化設計,功能清晰,易操作 ● 數據一鍵備份,一鍵還原、一鍵清理功能,保護用戶數據安全 ● 根據不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試精準度 ● 配備開放式分析模型功能,客戶可自行建立自己的工作模型。 ● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (長x寬x高) ● 樣品倉尺寸:360mm×400mm x160(長x寬x高,高度可定制) ●儀器重量:50kg ●供電電源:AC220V/ 50Hz ●最大功率:330W ●工作溫度:15-30℃ ●相對濕度:≤85%,不結露

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