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PCB鍍層測厚儀/金屬鍍層測厚儀

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探測器 ● 類型:X123探測器(原裝進口高性能電致冷半導體探測器) ● Be窗厚度:1mil ● 晶體面積:25m
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ROHS/無鹵檢測儀

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HeLeeX E8是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF);其核心光路系統集合國內外幾十年EDXRF尖端技術
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